主要特点及优点:

• 4至36个源－测量通道
• 程控激励源，可达:10V@10mA或1A@6V
• 支持多达8组独立通道进行并行测试
• 实时的并行多通道源－测量序列
• 快速测量，积分速率可低至0.002PLC
• 简单方便的并行I-V扫描
• 开放的PC/PCI架构将软件、硬件轻松集成于一体
• 优化的测试开发环境软件
• Windows 2000系统，并带以太网口
• 测试应用程序可在远程PC或4500-MTS上开发并执行

4500-MTS型多通道I-V测试系统是一种专门针对高速并行测试而优化设计的直流源-测量测试系统。这种多通道系统最多可支持36个源-测量通道，同时能够自动管理一些复杂的通道协同任务，例如通道间触发与通信等。此外，4500-MTS不再需要配置外部触发控制与仪器通信总线，从而降低了系统的复杂性。

应用

多点并行测试，包括：

• 圆片级HiB LED
• 光集成电路

MEMS/MOEMS寿命测试

• 在RFIC测试中用作智能电源系统
• 圆片与封装级VCSEL测试
• 激光二极管特性分析
• 多节可调激光二极管测试
• 半导体可靠性测试